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无锡英诺赛思科技有限公司

产品展示

FIB-SEM双束电子显微镜
产品型号:Fei Helios Nanolab G3 UC
产品产地:
发布日期:2021-07-21
浏览次数:
咨询电话:13426445751
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详细介绍

主要参数:离子束分辨小于3nm@30KV

电子束分辨率: workspace<1nm@15KV ,样品XY方向移动范围不低于100mm,Z方向不低于50mm,可绕Z轴旋转,任意角度倾斜角T范围不小于-4到70度,换样时间低于3.5分钟。

用途及功能:扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,聚焦离子束用于样品微纳米尺度下的切割、刻蚀,能谱仪主要用于样品元素分析。

TEM透射样品制备:对于表面薄膜、涂层、粉末大颗粒,原位TEM芯片加工,晶界界面以及相界面等精准定位与加工TEM制样;

SEM/EDS剖面分析:可进行二次电子形貌分析且图像分辨率高、背散射电子衬度分析、EDS能谱分析;

EBSD电子背散射衍射分析:可进行晶体取向成像、显微织构、界面等分析,分析速度快,标定准确度高;

微纳结构加工:在微纳结构操作机械手、Omniprobe操作探针、离子束切割等的配合下,可以进行各种微纳结构的搬运、各种显微结构形状或图案的加工;

样品要求:块体小于20*20*5mm,越小越好,可以接受磁性样品,磁性最好做成5*5*1mm小薄片

收费标准:常规3500/样,磁性/超硬/金刚石4500/样

联系方式

  • 地址:无锡市滨湖区建筑西路777号A3-101
  • 邮箱:test@tsinghua-wx.org
  • 联系人:徐宏博士 : 13426445751     钟磊:15600909562

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