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无锡英诺赛思科技有限公司

产品展示

场发射透射电子显微镜
产品型号:Talos F200X/FEI F20
产品产地:美国
发布日期:2021-07-21
浏览次数:
咨询电话:13426445751
关 键 词:TEM,透射,F200
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详细介绍

性能指标加速电压: 200 KV; 电子枪:肖特基热场发射超亮电子枪; TEM点分辨率:0.25 nm; TEM信息分辨率: 0.12 nm; STEM分辨率: 0.16 nm; 样品倾斜角度X/Y:±30°; 能谱能量分辨率:136 ev; 元素检测范围:B~U元素。

主要应用1. 对金属、陶瓷、半导体、塑料、纳米颗粒等各种材料进行超微结构观察; 2. 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察; 3. 选区电子衍射和晶体结构分析; 4. 配合能谱仪可对样品元素进行点、线、面分析;

测试项目测试项目:电子衍射(SAED)、(高分辨)透射电镜成像(TEM/HR-TEM);(高分辨)扫描透射电镜成像(STEM/HR-STEM);X射线能谱分析和元素面分析(EDS,STEM-EDS mapping)

制样要求粉末5mg,溶液0.5mL,可接受金属块体弱磁样品(含Fe、Co、Ni磁铁不吸)

收费标准

  • 地址:无锡市滨湖区建筑西路777号A3-101
  • 邮箱:test@tsinghua-wx.org
  • 联系人:徐宏博士 : 13426445751     钟磊:15600909562

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