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无锡英诺赛思科技有限公司

产品展示

球差矫正透射电子显微镜
产品型号:JEM-ARM200F
产品产地:日本
发布日期:2021-07-21
浏览次数:
咨询电话:13426445751
关 键 词:STEM,球差
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详细介绍

仪器介绍JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜,JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜,配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。

扫描透射模式分辨率:暗场像 0.08 nm 明场像 0.14 nm

透射模式分辨率:点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm

放大倍率:扫描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X

光斑尺寸:最小直径0.10nm

样品要求体样品,样品大小为直径3mm的圆,厚度100nm以下;制样用微栅或者超薄碳膜;粉末可直接寄样,包制样,接受磁性样品

收费标准:3000/小时,含(Fe,Co,Ni)4000/小时,粉末包制样

联系方式

  • 地址:无锡市滨湖区建筑西路777号A3-101
  • 邮箱:test@tsinghua-wx.org
  • 联系人:徐宏博士 : 13426445751     钟磊:15600909562

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