TEM透射电子显微镜_无锡英诺赛思科技有限公司

F20透射电镜

最大放大： 105万倍 (1,050,000×)
点分辨率： 0.24 nm
加速电压： 200KV
极限(信息)分辨率：0.14 nm
最小束斑尺寸：0.2nm
样品台：普通单、双倾台，铍双倾台
最大倾转角：±40°
X射线能谱仪元素分析范围：B5～U92
X射线能谱仪能量分辨率: 130 eV

Tecnai G2 F20 S-TWIN 透射电子显微镜是一个真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SEAD、STEM、EDX频谱成像等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。利用它可进行：（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)；（2）结构分析，观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：高分辨电子显微观察，系列欠焦像分析及出射波函数重构、电子衍射，会聚束电子衍射，纳米束衍射、Z-衬度（原子序数）成像等。成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析。

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