诺贝尔赛思实验室-清华大学无锡应用技术研究院半导体研测中心

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球差ARM200F

X射线衍射法测量残余应力

残余应力概念外力撤除后在材料内部残留的应力就是残余应力。但是，习惯上将残余应力分为微观应力和宏观应力。两种应力在X射线衍射谱中的表现是不相同的。
AFM原子力显微镜

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用

材料检测分析方法汇总

功能介绍 “诺贝尔-赛思实验室”，依托清华大学无锡应用技术研究院半导体研测中心建设，由诺贝尔物理学奖得主中村修二教授担任首席科学家；企业主体为无锡英诺赛思科技有限公司,旨在开展新材料、新能源以及半导体领域的技术研发、检测分析以及技术服务。
电镜测试中常用的元素分析方法

元素分析在电镜分析中经常使用，随着科学技术的发展，现代分析型电镜通过安装 X 射线能谱、能量过滤器、高角度环形探测器等配件，逐步实现了在多学科领域、纳米尺度下对样品进行多种信号的测试，从而可以获得更全面的结构以及成分信息。以下是几种现在常用的电镜中分析元素

失效分析简介

失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及，它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。
透射电镜TEM知识分享

功能介绍 “诺贝尔-赛思实验室”，依托清华大学无锡应用技术研究院半导体研测中心建设，由诺贝尔物理学奖得主中村修二教授担任首席科学家；企业主体为无锡英诺赛思科技有限公司,旨在开展新材料、新能源以及半导体领域的技术研发、检测分析以及技术服务。

小角散射SAXS

20世纪初,伦琴发现了比可见光波长小的辐射。由于对该射线性质一无所知,伦琴将其命名为X射线（X-ray).到20世纪30年代,人们以固态纤维和胶态粉末为研究物质发现了小角度X射线散射现象。

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