电子探针(EMPA)1720是进行固态样品表面形貌、结构观察和微区成分分析测试的常规分析仪器,具有以下特点:
(1)分析区域很小,可完成小于1μm3区域的成分分析;
(2)分析元素范围广,可测 Be-U元素;
(3)不破坏样品;
(4)可进行元素线扫描分析和面扫描分析;
(5)应用范围广,可测试各类固态样品;
(6)分析快捷且成本较低。电子探针业已成为矿物学、岩石学、地球化学、矿床学、构造地质学、比较行星学和冶金材料科学等研究领域基础的原位微束微区分析仪器。
可以实现矿物、岩石、材料等各类固体样品的微区形貌和结构观察、高精度的微区无损成分定量分析、高精度的元素线扫描和面扫描分析。
(1)固体物质表面微区元素定性、定量分析;
(2)固体物质表面图像分析如:背散射图像(BSE)、二次电子图像(SE);
(3)固体物质表面元素线分析;
(4)固体物质表面元素2D面分析;
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