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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜

JEM-ARM200F是一台具有亚埃分辨率的扫描透射电子显微镜，配备有电子束球差校正系统、X-射线能谱仪和电子能量损失谱仪。可同时进行原子分辨率的成像和化学份分析。

扫描透射模式分辨率：暗场像 0.08 nm 明场像 0.14 nm

透射模式分辨率：点分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm

放大倍率：扫描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X

光斑尺寸：最小直径0.10nm


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